使用FMC/TFM检测不规则或未知表面
在本场演讲中，Jeremy Gaumer谈到了在检测复杂几何形状时使用全矩阵捕获和全聚焦方法（FMC/TFM）的优势，并提及多个应用示例，特别是针对焊接检测。
然后，他以3.2m长的板为例，深入讨论了自适应平面波成像(PWI)作为一种快速超声技术在不规则表面检测中的应用情况。
全矩阵采集
强大的数据采集过程
FMC——数据采集方案：
在一个阵元上发射信号，并在所有阵元上接收。
在所有循环中，单独发射一个信号，且每次接收所有信号。
接收大量A扫描数据，然后进行重建。
全聚焦方法
出色的图像重建效果
TFM——后处理成像：
使用具有确定密度的网格。
通过对像素网格中的每个点进行延迟求和计算TFM的结果。
通过该算法处理所有原始A扫描信息。
利用所有阵元实时接收到的界面回波来估算表面情况。
如果表面情况未知或不规则怎么办？
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FMC/TFM针对复杂表面的优势：
- 实时确定该表面的位置。
- 使检查变得简单：无需提前了解几何形状，即可进行复杂的运动控制。
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具有出色的分辨率、信噪比和检测能力。
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自适应平面波成像（PWI）针对复杂表面的优势：
- 速度：使用平面波成像（PWI）时，我们激发的周期比全聚焦法（TFM）少很多，这也意味着数据处理量更少。
- 功能强大：可以快速扫查大型物体（光栅扫描是PWI的极佳应用实例）。
进行这种检测时你需要做什么？
使用全矩阵捕获 / 全聚焦法（FMC/TFM）或自适应相控阵成像（Adaptive PWI）对复杂表面进行检测时，所需的最基本的设备要求包括：一台用于脉冲发射和接收的Explorer设备、一个可贴合曲面的水楔、一个探头和一台用于成像重建计算机（使用GPU）。
Explorer系列可满足各行各业中最苛刻的应用要求。 它是 市场上用途最广泛的超声检测设备： 适用于相控阵、FMC/TFM先进成像技术（PWI、PWI、PCI……）
有关超声无损检测中新成像方法的更多信息
全聚焦方法不只是FMC/TFM，就成像技术而言，它只是冰山一角。
查看Cyril Thibault的演讲“超声无损检测中的新成像方法” ，了解新成像技术在超声无损检测中的应用潜力：
功能多样—— 高分辨率成像—— 速度快——适应实际应用场景